Generell halten ma-P 1200 – Resiste starken Säuren sehr gut stand. In Untersuchungen wurde z.B. gezeigt, dass 2,5 µm dicke ma-P 1225 und 7,5 µm dicke ma-P 1275 – Schichten, beide unter Standardbedingungen verarbeitet, konzentrierte HCL bei 45…50 °C mindestens 10 min problemlos aushalten. Es wurde kein Angriff an der Resistoberfläche beobachtet.
Konzentrierte HF ist jedoch schwierig für alle Photoresiste (vgl. Frage 4).
Auch stark oxidierende Säuren können Probleme verursachen. Die Resiststabilität hängt in diesen Fällen von der Temperatur und der Zusammensetzung des Ätzmittels ab.
Das HF-Ätzen ist sehr anspruchsvoll. HF greift den Resist nicht an. Aber es kann unter den Resist diffundieren und ihn von unten abheben, was eine schlechte Haftung auf dem Substrat verursacht. Darum sollte eine so hohe Schichtdicke wie möglich gewählt werden. Und der Resist sollte stabilisiert werden (stärkerer Prebake und Hardbake). Trotzdem hängt es stark von der HF-Konzentration und der Ätzzeit ab, wie weit der Photoresist dem Ätzen standhält.
In der Literatur ist erwähnt, dass ma-P 1200 für das Ätzen mit gepufferter HF geeignet ist [*].
[*] A. Pozzato, S. Dal Zilio, G. Fois, D. Vendramin, G. Mistura, M. Belotti, Y. Chen, M. Natali, Microelectronic Eng. 83 (2006), 884-888, doi:10.1016/j.mee.2006.01.012
Für Lift-off-Prozesse kann ein Zweischichtsystem angewendet werden. LOR (ein nicht lichtempfindliches Polymer, das von MicroChem Corp. für verschiedene Schichtdicken angeboten wird) kann z.B. als untere Schicht eingesetzt werden. In einem zweiten Schritt wird ein Positivresist, z.B. aus der ma-P 1200 – Serie, als obere Schicht aufgebracht. Während der wässrig-alkalischen Entwicklung werden die belichteten Areale der Positivresistschicht aufgegelöst und ebenso die LOR-Schicht darunter. Das unterschnittene Profil in der unteren Schicht wird durch Variation der Entwicklungszeit und der Prebakebedingungen der LOR-Schicht eingestellt.
Für einige Anwendungen kann der Lift-off mit einem Einschicht-Resist, der kein unterschnittenes Profil ergibt, durchgeführt werden. So wäre z.B. die Verwendung von ma-P 1200 – Resist ohne zusätzliche Unterschicht ausreichend – vorzugsweise in etwas höherer Schichtdicke, um dem Stripper den Angriff an den Resist-Seitenwänden zu ermöglichen. In diesem Fall ist die Qualität der Ränder des abgeschiedenen Metalls geringfügig schlechter als in einem Zweischichtprozess.
Wir empfehlen, „Developer Concentrate” von DOW Electronic Materials für die Entwicklung von Resisten der ma-P 1200 – Serie auf Al oder Al-haltigen Substraten anzuwenden. Der Entwickler kann von unserem Unternehmen bezogen werden. Er enthält Metasilikat, das Al praktisch nicht angreift.
[1] W. Schrott, M. Svoboda, Z. Slouka, D. Šnita, Metal electrodes in plastic microfluidic systems, Microelectronic Engineering, 86 (2009), 1340-1342;
doi: 10.1016/j.mee.2009.01.001
ma-P 1275 dient als Galvanik-Form für Au- und Cu-Strukturen in mikrofluidischen Systemen.
[2] P.W. Leech, G.K. Reeves, A.S. Holland, Reactive ion etching of TiN, TiAlN, CrN and TiCN Films in CF4/O2 and CHF3/O2 Plasmas, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 890 (2006), 0890-Y08-13.1-6;doi: 10.1557/PROC-0890-Y08-13
ma-P 1205 dient als Ätzmaske für das Plasma-Ätzen bei der Herstellung von Stempeln für die Imprintlithographie.
[3] G. Kaltsas, A. Petropoulos, K. Tsougeni, D. N. Pagonis, T. Speliotis, E. Gogolides, A. G. Nassiopoulou, A novel microfabrication technology on organic substrates – Application to a thermal flow sensor, Journal of Physics: Conference Series 92 (2007) 012046; doi:10.1088/1742-6596/92/1/012046
ma-P 1275 wird in einem Lift-off-Prozess mit Pt-Abscheidung genutzt bei der Herstellung eines thermischen Fluss-Sensors.
[4] J.-C. Galas, D. Bartolo, V. Studer, Active connectors for microfluidic drops on demand, New J. Phys. 11 (2009) 075027;
doi:10.1088/1367-2630/11/7/075027
Nach dem Reflow dient ma-P 1275HV als Form für die Abformung mit PDMS bei der Herstellung aktiver mikrofluidischer Kupplungen.
Standardmäßig bieten wir gebrauchsfertige Resiste für die angegebenen Schichtdickenbereiche an. Durch die Abmischung des Resists mit dem empfohlenen Verdünner (Lösungsmittelgemisch) kann der Resist zum Erreichen einer geringeren Schichtdicke entsprechend verdünnt werden. Wir garantieren die Einhaltung der Eigenschaften für alle gebrauchsfertigen Resiste innerhalb der angegebenen Haltbarkeit bei Lagerung bei den empfohlenen Lagerbedingungen.
Standardmäßig sind die Resiste für eine Schichtherstellung mittels Schleuderbeschichtung qualifiziert. Die Schichtherstellung mittels Sprühen ist ebenfalls möglich, wir können aber im Moment keine Hinweise zur Prozessierung geben.
Beide Resistserien unterscheiden sich in ihrem verfügbaren Schichtdickenbereich, in der Empfindlichkeit, der thermischen Stabilität der Resiststrukturen und im Profil der ausgebildeten unterschnittenen Strukturen.
Für eine Strukturübertragung mittels PVD (physical vapour deposition) und Lift-off wird der ma-N 400 für das Aufbringen der Metallisierungsschicht mittels Aufdampfen und für Sputterprozesse mit einem geringen Temperatureintrag empfohlen. Der temperaturstabilere ma-N 1400 wird für Sputterprozesse mit einem höheren Temperatureintrag empfohlen.
Die Einschichtsysteme ma-N 400 und ma-N 1400 haben gegenüber einem Zweischichtsystem eine geringere Anzahl lithographischer Prozessschritte. Die thermische Stabilität des ma-N 1400 ist höher als die der ma-N 400 Serie und die eines Zweischichtsystems. Die Auflösung der Einschicht- und Zweischichtsysteme ist vergleichbar, wobei teilweise eine höhere Auflösung mit dem Zweischichtsystem erreicht werden kann.
Um den mit Metall bedeckten Resist nach erfolgtem PVD-Prozess sauber entfernen zu können, sollte die Resistschichtdicke mindestens das 1,5 – 2-fache der Schichtdicke des aufgebrachten Metalles betragen.
Beide Materialsysteme basieren auf unterschiedlichen Komponenten. Eine detaillierte Gegenüberstellung der Materialsysteme, der lithographischen Prozessierung, sowie der Eigenschaften der gefertigten Wellenleitern entnehmen Sie bitte der beigefügten Übersicht.
In jedem Fall sollte das Substrat frei von Verunreinigungen und adsorbierter Feuchtigkeit sein.
Die Substrate sollten bei 200 °C ca. 20-30 min ausgeheizt und unmittelbar vor der Beschichtung auf Raumtemperatur abgekühlt werden. Wahlweise ist eine Sauerstoff- oder Ozon-Plasmareinigung empfehlenswert.
Ein kurzer Sauerstoffplasmaschritt wird in jedem Fall, z.B. bei Halbleitersubstraten FR4 oder bei einer Mehrfachbeschichtung und -strukturierung (z.B. EpoClad/EpoCore/EpoClad) empfohlen.
Standardmäßig erfolgt die Resistentfernung mit mr-Rem 660 (enthält NMP), mr-Rem 400/ 500 (NMP-frei),mr-Rem 700 (NMP und NEP-frei), ma-Rem 404/S oder Aceton. Bei Verwendung von mr-Rem 660 kann das Entfernen auch ultraschallunterstützt und bei höheren Temperaturen von 40 – 60 °C erfolgen. Sollte durch einen Strukturübertragungsprozeß eine stärkere Vernetzung der Resiststrukturen das Entfernen (Remove) erschweren, kann die rückstandslose Entfernung des ma-N 2400, ma-N 400 und ma-N 1400 in einem Sauerstoffplasmaschritt erfolgen.
Die Negativ-Resiste zeigen generell eine gute Ätzbeständigkeit im Trockenätzprozeß mit z.B. CF4 oder SF6/ O2Plasma. Da die Ätzraten sehr stark durch die verschiedenen Parameter, wie z.B. Größe der zu ätzenden Fläche, Zusammensetzung des Ätzgases, sowie Druck, Temperatur und Energie während des Ätzprozesses abhängen, können wir keine genauen Angaben zu Ätzraten der Resiste geben.
Die Ätzstabilität der Resiste kann ebenfalls durch ein Trocknen der Resistschicht bei höherer Temperatur positiv beeinflußt werden. Meist beträgt die Ätzselektivität 1:1.
Das HF-Ätzen ist etwas anspruchsvoll. HF greift den Resist nicht an. Aber es kann unter den Resist diffundieren und ihn von unten abheben, was eine schlechte Haftung auf dem Substrat verursacht. Darum sollte eine so hohe Schichtdicke wie möglich gewählt werden. Und der Resist sollte stabilisiert werden (stärkerer Prebake und Hardbake). Trotzdem hängt es stark von der HF-Konzentration und der Ätzzeit ab, wie weit der Photoresist dem Ätzen standhält.
Wir empfehlen metasilikat-basierende Entwickler für die Verarbeitung von Resisten der ma-N–Serie auf Al oder Al-haltigen Substraten anzuwenden. Die Entwickler können von unserem Unternehmen bezogen werden. Metasilikat greift Al praktisch nicht an.
Es gibt ein paar Ansätze, wie man die Aufladungseffekte vermindern bzw. vermeiden kann:
1.: Aufbringen einer dünnen Metallschicht als TopCoat:
Dazu wird auf dem Resist eine dünne Metallschicht (z.B. 20 nm Cr oder 10 nm Al) aufgebracht, die nach der Belichtung und vor dem Entwickeln wieder entfernt wird. Eine Chromschicht kann z.B. mittels Chrometch 18 entfernt werden. Der Vorteil bei Verwendung von dünnen Aluminiumschichten z.B. auf dem e-beam Resist ma-N 2400 ist, dass die dünne Al-Schicht beim Entwicklungsprozess mit wässrig-alkalischen Lösungen einfach weggelöst wird. Ein zusätzlicher Prozessschritt ist nicht notwendig.
2.: Aufbringen von leitfähigen Polymeren:
Die Verwendung von wasserlöslichen leitfähigen Polymeren als TopCoat wird in [Ji, Mohamed] beschrieben.
[Ji] J. Ji et al “High-Throughput Nanohole Array Based System to Monitor Multiple Binding Events in Real Time” Anal. Chem. 80 (2008) 2491-2498
[Mohamed_1] K. Mohamed et al “Surface charging suppression using PEDOT/PSS in the fabrication of three dimensional structures on a quartz substrate” Microelectronic Engineering Vol. 86 (2009) 535 – 538”
ma-N 2400:
[Bilenberg] B. Bilenberg, M. Schøler, P. Shi, M. S. Schmidt, P. Bøggild, M. Fink, C. Schuster, F. Reuther, C. Gruetzner, A. Kristensen „Comparison of high resolution negative electron beam resists” J. Vac. Sci. Technol. B 24(4) (2006) 1776
[Blideran] M.M. Blideran, M. Häffner, B.-E. Schuster, C. Raisch, H. Weigand, M. Fleischer, H. Peisert, T. Chassé, D.P. Kern „Improving etch selectivity and stability of novolak based negative resists by fluorine plasma treatment” Microelectronic Engineering 86 (2009) 769–772
[Cardenas] J. Cardenas, C. B. Poitras, J. T. Robinson, K. Preston, L. Chen, M. Lipson “Low loss etchless silicon photonic waveguides” Optics Express Vol. 17, No 6 (2009) 4752
[Chen] S. C. Chen, Y. C. Lin, J. C. Wu, L. Horng, C. H. Cheng „Parameter optimization for an ICP deep silicon etching system” Microsyst Technol (2007) 13: 465–474
[Elsner_1] H. Elsner, H.-G. Meyer, A. Voigt, G. Gruetzner “Evaluation of the ma-N 2400 series DUV photoresists for the electron beam exposure“ Microelectron. Eng. 46 (1999), 389–392
[Elsner_2] H. Elsner, H.-G. Meyer “Nanometer and high aspect ratio patterning by electron beam lithography using simply DUV negative tone resists” Microelectronic Engineering Vol. 57-58 (2001), 291 – 296
[Gondarenko] A. Gondarenko, J. S. Levy, M. Lipson “High confinement micron-scale silicon nitride high Q ring resonator” Optics Express Vol. 17, No. 14 (2009) 11366
[Konijn] M. Konijn, M.M. Alkaisi , R.J. Blaikie “Nanoimprint lithography of sub-100 nm 3D structures” Microelectronic Engineering 78–79 (2005) 653–658
[Mohamed_2] K. Mohamed, M. M. Alkaisi, R. J. Blaikie “A Three-Dimensional Ultraviolet Curable Nanoimprint Lithography (3D UV-NIL)” American Institute of Physics (AIP) Conf. Proc. 1151, (2009) 114
[Verhagen] E. Verhagen, A. Polman, L. (Kobus) Kuipers „Nanofocusing in laterally tapered plasmonic waveguides” Optics Express Vol. 16, No. 1 (2008) 45
[Voigt_1] A. Voigt, H. Elsner, H.-G. Meyer, G. Gruetzner “Nanometer patterning using ma-N 2400 series DUV negative photoresist and electron beam lithography“ Proc. SPIE 3676 (1999) 485–491
[Yu] Q. Yu, S. Braswell, B. Christin, J. Xu, P. M. Wallace, H. Gong, D. Kaminsky “Surface-enhanced Raman scattering on gold quasi-3D nanostructure and 2D nanohole arrays” Nanotechnology 21 (2010) 355301 (9pp)
ma-N 400/ ma-N 1400:
[Voigt_2] A. Voigt, G. Gruetzner, E. Sauer, S. Helm, T. Harder, S. Fehlberg, J. Bendig „A series of AZ-compatible negative photoresists“ Proc. SPIE 2348 (1995) 413–420
[Voigt_3] A. Voigt, M. Heinrich, K. Hauck, R. Mientus, G. Gruetzner, M. Töpper, O. Ehrmann „A Single Layer Negative Tone Lift-Off Photo Resist for Patterning a Magnetron Sputtered Ti/Pt/Au Contact System and for Solder Bumps“ Microelectron. Eng. 78 – 79 (2005) 503 – 508
ma-N 1400:
[Goeppl] M. Goeppl, A. Fragner, M. Baur, R. Bianchetti, S. Filipp, J. M. Fink, P. J. Leek, G. Puebla, L. Steffen, A. Wallraff „Coplanar Waveguide Resonators for Circuit Quantum Electrodynamics” J. Appl. Phys. 104, 113904 (2008)
[Lysko] J. M. Lysko, B. Latecki, M. Nikodem „Gas micro-fow-metering with the in-channel Pt resistors” J. of Telecommunications & Information Technology (2005) 98
ma-N 400:
[Figi] H. Figi, M. Jazbinsek, C. Hunziker, M. Koechlin, P. Guenter „Electro-optic single-crystalline organic waveguides and nanowires grown from the melt” Optics Express Vol. 16, No. 15 (2008) 11310
[Guo] H.C. Guo, D. Nau, A. Radke, X.P. Zhang, J. Stodolka, X.L. Yang, S.G. Tikhodeev, N.A. Gippius, H. Giessen “Large-area metallic photonic crystal fabrication with interference lithography and dry etching” Appl. Phys. B 81 (2005) 271–275
Epocore/ Epoclad:
[Ceyssens] F. Ceyssens, M. Driesen, K. Wouters, R. Puers, K.U. Leuven „A low-cost and highly integrated fiber optical pressure sensor system” Sensors and Actuators A 145–146 (2008) 81–86
[DeDockera] H.W.J.A. De Doncker, T. Guan, M. Driesen, R. Puers „Biaxial and Uniaxial Epoxy Accelerometers” Procedia Chemistry 1 (2009) 572–575
[Driesen] M. Driesen, K. Wouters, R. Puers „Etch rate optimization in reactive ion etching of epoxy photoresists” Procedia Chemistry 1 (2009) 796–799
[Gijsenbergh] P. Gijsenbergh, K. Wouters, K. Vanstreels, R. Puers “Determining the physical properties of EpoClad negative photoresist for use in MEMS applications” J. Micromech. Microeng. 21 (2011) 074001 (6pp)
[Himmelhuber] R. Himmelhuber, M. Fink, K. Pfeiffer, U. Ostrzinski, A. Klukowska, G. Gruetzner, R. Houbertz, H. Wolter „Innovative materials tailored for advanced microoptic applications“ Proc- SPIE Vol. 6487 (2007)
[Wouters_1] K. Wouters, R. Puers „Determining the Young’s modulus and creep effects in three different photo definable epoxies for MEMS applications” Sensors and Actuators A 156 (2009) 196–200
[Wouters_2] K. Wouters, H. De Doncker, R. Puers „Dynamic thermal mechanical characterization of Epoclad negative photoresist for micro mechanical structures” Microelectronic Engineering 87 (2010) 1278–1280
mr-DWL:
[Cadarso] V. J. Cadarso, K. Pfeiffer, U Ostrzinski, J. B. Bureau, G. A. Racine, A. Voigt, G. Gruetzner, J. Brugger “Direct writing laser of high aspect ratio epoxy microstructures” J. Micromech. Microeng. 21 (2011) 017003 (6pp)
Hybridpolymere bestehen aus organischen und anorganischen Strukturelementen. Dadurch werden dieser Materialklasse viele positive Eigenschaften zuteil, welche die Hybridpolymere besonders geeignet für Herstellung permanenter mikro- und nanooptischer Komponenten machen. Neben einer hervorragenden optischen Transparenz und einem nicht-vergilbenden Verhalten, zählen hierzu auch eine hohe thermische und chemische Stabilität sowie exzellente mechanische Eigenschaften.
Unsere Hybridpolymer-Produkte sind abgeleitet von den sogenannten ORMOCER®en (Organically Modified Ceramics), die ursprünglich vom Fraunhofer-Institut für Silicatforschung (ISC) entwickelt wurden. ORMOCER®ist ein Markenzeichen der Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. München.
Jedes Hybridpolymer-Produkt verfügt über eigene Verarbeitungshinweise, die der Kunde mit der Lieferung des Produkts erhält.
Falls Sie vorher nähere Informationen zur Verarbeitung benötigen, wenden Sie sich bitte an den Produktmanager oder nutzen Sie unser Kontaktformular.
Hybridpolymer-Produkte bilden während der UV-Aushärtung ein stabiles dreidimensionales Polymernetzwerk, so dass bei vollständig ausgehärteten Hybridpolymeren kein Glasübergang auftritt. Hybridpolymere sind Duromere.
Neben den Standard-Hybridpolymeren (siehe Produkttabellen) bietet die micro resist technology GmbH auf Anfrage auch Lösungen als Sonderanfertigungen an, die auf niedrigere Schichtdicken (Minimum bis 100 nm) eingestellt sind.
Falls Sie ein Hybridpolymer-Produkt selbst verdünnen wollen, um dünnere Schichten aufzuschleudern oder eine niedrigere Viskosität zu erlangen, bieten wir folgende Lösungsmittelsysteme an:
* Details zu Verdünnungsverhältnissen finden Sie in unseren Hybridpolymer-Verarbeitungshinweisen.
Um die Haftung der Hybridpolymere auf Silizium oder Glas während der UV-Abformung bzw. während des UV-Imprints zu gewährleisten, ist es ratsam einen Haftvermittler auf das Substrat zu applizieren.
Wir empfehlen den speziell hierfür entwickelten Haftvermittler OrmoPrime®08. Detaillierte Informationen entnehmen Sie bitte den Verarbeitungshinweisen.
Wir empfehlen in allen Fällen eine Trennschicht auf dem Stempel oder der Maske aufzubringen, um einen Kontrast in der Haftung zwischen Stempel/Maske und Substrat zu erzeugen. Es ist ratsam auch im Falle einer Abstandsbelichtung die Maske vorzubehandeln. Die gebildete Trennschicht („anti-sticking layer“, ASL) verhindert Defekte, die durch das Haften des Hybridpolymers am Stempel/Maske entstehen könnten. Das meist verwendete Trennmittel für Silizium und Siliziumdioxid ist “F13-TCS” (1H,1H,2H,2H-perfluorooctyl-trichlorosilan, CAS-Nummer [78560-45-9], bei vielen Chemikalienhändlern erhältlich).
Die Verarbeitung von F13-TCS für Si- und SiO2-Stempel ist beschrieben in: S. Park, “Anti-adhesive layers on nickel stamps for nanoimprint lithography“, Microel. Eng. 73-74 (2004), 196-201; H. Schift et al., „Controlled co-evaporation of silanes for nanoimprint stamps“, Nanotechnology 16 (2005), 171-175.
Die Hybridpolymere sind lediglich mittels UV-Licht aushärtbar.
Die empfohlenen Heizschritte erfüllen andere Zwecke:
Hybridpolymer-Produkte bilden während der UV-Aushärtung ein stabiles dreidimensionales Polymernetzwerk, so dass zur Entfernung der ausgehärteten Hybridpolymere drastische Bedingungen notwendig sind, z.B. ein Peel-Off mit heißer Piranha-Säure. Alternativ lassen sich die Hybridpolymere mittels O2/ CHF3 Plasma entfernen. Jedoch ist zu beachten, dass kein reines Sauerstoff-Plasma verwendet wird, da sich sonst poröses SiO2 bildet.
OrmoClear®, OrmoCore und OrmoClad bilden wie auch viele andere Acrylat-basierte Polymere eine sogenannte Inhibierungsschicht aus, wenn sie unter sauerstoffhaltiger Atmosphäre belichtet werden (z.B. während der Maskenlithographie oder einer Flutbelichtung). Diese beruht auf einem teilweisen Polymerisationsabbruch mit Sauerstoff, der zu einer ca. 5-15 µm dicken Schicht nicht ausgehärtetem Material an der Oberfläche führt, der sogenannten Inhibierungsschicht. Diese Schicht lässt sich nicht aushärten und muss in einem extra Schritt wegentwickelt werden (z.B. mit OrmoDev). OrmoComp®, OrmoClear®FX und OrmoStamp® sind jedoch sauerstoffunempfindlich und bilden daher keine Inhibierungsschicht aus.
Bei der Verwendung von Hartstempeln während der UV-Abformung oder des (Nano)Imprintens (z.B. Si-, SiO2-, Ni-molds) kommt es durch den Ausschluss von Sauerstoff nicht zur Ausbildung einer Inhibierungsschicht. Bei PDMS als Stempelmaterial wird jedoch eine Inhibierungsschicht gebildet (PDMS verhält sich wie ein “Sauerstoff-Schwamm”).
Neben den Standardpolymer- und Resistlösungen (siehe Produkttabellen) bietet die micro resist technologyGmbH auf Anfrage auch Lösungen als Sonderanfertigungen an, die auf andere Schichtdicken eingestellt sind. Die größtmöglich erhältlichen Schichtdicken sind folgende:
Nanoimprint-Polymer | Größtmöglich erhältliche Schichtdicke bei 3000 U/min |
---|---|
mr-I 7000R | 2 µm |
mr-I 8000R | 2 µm |
SIPOL | 4 µm |
mr-I T85 | 25 µm |
mr-I PMMA 35k | 3 µm |
mr-I 9000M | 3 µm |
mr-NIL 6000E | 3 µm |
mr-NIL210 | 2 µm |
mr-UVCur21-Serie | 1 µm |
mr-UVCur21SF | 1,6 µm (identisch mit Standardprodukt) |
mr-XNIL26 | |
mr-XNIL26SF | 4,7 µm |
Falls Sie eine Nanoimprint-Polymerlösung selbst verdünnen wollen, um dünnere Schichten aufzuschleudern, bieten wir folgende Lösungsmittelsysteme an.
Nanoimprint-Polymer | Verdünner |
---|---|
mr-I 7000R | ma-T 1050 |
mr-I 8000R | ma-T 1050 |
SIPOL | ma-T 1050 |
mr-I T85 | Kein Verdünner erhältlich |
mr-I PMMA 35k | ma-T 1045 |
mr-I 9000M | ma-T 1045 |
mr-NIL 6000E | ma-T 1045 |
mr-NIL210 | mr-T 1078 |
mr-UVCur21-Serie | mr-T 1070 |
mr-UVCur21SF | – |
mr-XNIL26 | ma-T 1050 |
mr-XNIL26SF | ma-T 1050 |
Bitte denken Sie daran, dass die verdünnten Lösungen nochmals filtriert werden müssen, um Partikelkontaminationen zu vermeiden und eine hohe Schichtqualität zu gewährleisten. Spritzenfilter sind dafür geeignet.
Sie werden die Verarbeitungshinweise mit der Lieferung des Produkts bekommen. Falls Sie vorher nähere Informationen zur Verarbeitung brauchen, wenden Sie sich bitte an den Produktmanager.
Wir empfehlen in allen Fällen eine Trennschicht auf dem Prägestempel aufzubringen, um einen Kontrast in der Haftung zwischen Stempel und Substrat zu erzeugen. Die gebildete Trennschicht („anti-sticking layer“, ASL) verhindert Defekte, die durch das Kleben des Prägematerials am Stempel entstehen könnten. Das meist verwendete Trennmittel für Stempel aus Silizium und Siliziumdioxid ist “F13-TCS” (1H,1H,2H,2H-perfluorooctyl-trichlorosilan, CAS-Nummer [78560-45-9], bei vielen Chemikalienhändlern erhältlich).
Die Verarbeitung von F13-TCS für Si- und SiO2-Stempeln ist beschrieben in: M. Beck et al., Improving Stamps for 10 nm Level Wafer Scale Nanoimprint Lithography, Microel. Eng. 61-62 (2002), 441-448; H. Schift et al.,Controlled co-evaporation of silanes for nanoimprint stamps, Nanotechnology 16 (2005), S171-S175.
Methoden, um Trennschichten auf Nickelstempeln aufzubringen, sind beschrieben in: S. Park, Anti-adhesive layers on nickel stamps for nanoimprint lithography, Microel. Eng. 73-74 (2004), 196-201; M. Keil, Process development and characterization of antisticking layers on nickel-based stamps designed for nanoimprint lithography, J. Vac. Sci. Technol. B22 (2004), 3283-3287.
mr-NIL210 und mr-UVCur21 sind UV-härtende und flüssige Polymersysteme für die UV-gestützte Nanoimprint-Lithografie. Die aufgeschleuderten, flüssigen Schichten werden mittels UV-Licht bei Raumtemperatur gehärtet. Temperungen nach dem Prägeschritt sind nicht nötig.
mr-NIL 6000E ist ein härtendes Polymer für die thermische Nanoimprint-Lithografie, das eine feste Schicht nach dem Aufschleudern und dem Prebake bildet. Es weist eine niedrige Glasübergangstemperatur (Tg) von 40 °C auf. Daher kann es bei niedrigen Prägetemperaturen von 80 – 100 °C geprägt werden. Dieses Epoxy-basierte Material muss aber durch UV-Belichtung und einen Heizschritt gehärtet werden (ähnlich zu einem Post Exposure Bake bei chemisch verstärkten Resisten). Ansonsten würden die geprägten Strukturen bei erhöhten Temperaturen wieder zerfließen. Die Aushärtung sollte am besten während des Prägeschritts in der Prägemaschine erfolgen (falls die Maschine eine Belichtungseinheit hat).
Die Verwendung von Haftvermittlern hängt von der Produktserie ab, die Sie verwenden wollen.
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micro resist technology ist in Europa zentrale Anlaufstelle für Spezialchemikalien mit Anwendung in der Mikro- und Nanofabrikation. Das Portfolio der eigengefertigten Produkte wird durch den strategischen Vertrieb assoziierter Produkte ergänzt, die durch unsere internationalen Partner hergestellt werden. Hier agieren wir als High-Service-Distributor und bieten dem europäischen Mittelstand ein breites Spektrum an komplementären Produkten aus einer Hand, die sowohl für etablierte als auch für innovative Produktions- und Fertigungsverfahren eingesetzt werden können.
DuPont Electronic Solutions (ehm. DOW Electronic Materials / Rohm and Haas Europe Trading ApS)
Wir bieten Produkte für Semiconductor Technologies, Advanced Packaging und Trockenfilmresiste unseres Partners DuPont an, mit dem wir seit mehr als 20 Jahren zusammenarbeiten.
Kayaku Advanced Materials, Inc. (ehm. MicroChem Corp.)
Wir bieten Photoresiste und Spezialchemikalien für MEMS und Mikroelektonik-Anwendungen unseres Partners Kayaku Advanced Materials an, mit dem wir seit mehr als 20 Jahren zusammenarbeiten.
DJ MicroLaminates, Inc.
Wir bieten Trockenfilmresiste für MEMS, Mikrofluidik und Packaging-Anwendungen unseres Partners DJ MicroLaminates an, mit dem wir seit über zwei Jahren kooperieren.
Trockenfilme sind anwendungsfertige Polymerfilme als Laminat mit einer hohen Schichtdickengenauigkeit und exzellenten Haftungseigenschaften auf verschiedensten Untergründen. Sie sind einfach in der Verarbeitung, foto-strukturierbar und sowohl als zugeschnittene Bögen als auch als Rollenmaterial verfügbar.
Spezielle Funktionsmaterialien aus den Produktgruppen Hybridpolymere, Photoresiste und Nanoimprint Polymere für die Beschichtung und alternative Strukturierung mittels Inkjet-Printing-Verfahren
Resiste für die Nanoimprint-Lithographie (NIL)
Die Nanoimprint Lithographie (NIL) ist eine sehr einfache und kostengünstige Technologie zur Herstellung von Strukturen mit Größen weniger Nanometer, die effizient in einem Prozessschritt auch auf großen Flächen realisiert werden kann. Hauptanwendungsfelder der NIL sind photonische Komponenten, unterschiedliche Bauelemente für die nächste Generation der Verbraucherelektronik, sowie Bio- und Life-Science-Sensoren.
Die micro resist technology GmbH bietet seit 1999 maßgeschneiderte Resistformulierungen für die Nanoimprint-Lithographie (NIL) an. Wir legen dabei besonderen Wert auf herausragende Filmbildungs- und Prägeeigenschaften sowie eine exzellente Plasmaätzstabilität und Strukturtreue. Weiterhin bieten wir hochinnovative Materialien, die eng an dem technischen Fortschritt in der Industrie entwickelt wurden. Wir sind in der Lage unsere Materialien an die Kundenwünsche anzupassen, sowohl in den gewünschten Schichtdicken, als auch in deren intrinsischen Materialeigenschaften. Die Nanoimprint-Resiste werden meist als Ätzmaske zur Strukturübertragung in unterschiedliche Substrate wie Si, SiO2, Al oder Saphir, eingesetzt.
Prinzipiell existieren zwei unterschiedliche NIL-Technologien: die thermische NIL (T-NIL), in der thermoplastische Polymere Verwendung finden, und die Photo-NIL bzw. UV-NIL, in der photo-vernetzbare Formulierungen eingesetzt werden. Mit unserer langjährigen Erfahrung sind wir in der Lage, den für Sie passenden Prozess und das am besten geeignetste Material für Ihre Anwendung zu finden. Kontaktieren Sie uns für tiefergehende Informationen.
micro resist technology bietet ein breites Portfolio an UV-härtbaren Hybridpolymer Produkten für mikrooptische Anwendungen. Durch ihre ausgezeichnete optische Transparenz und hohe thermische Stabilität sind diese besonders geeignet zur Herstellung polymerbasierter optischer Komponenten und Wellenleiter. Die Hauptanwendungsgebiete sind die Herstellung von Mikrolinsen, diffraktiven optischen Elementen (DOE), Gitterstrukturen sowie Singlemode- oder Multimode-Wellenleitern.
OrmoComp®: DE 30 210 075 433; IR 1 091 982 ; TW 100030626; OrmoClear®: DE 30 210 075 434; IR 1 091 359 ; TW 100030628; OrmoStamp®: DE 30 210 075 435; IR 1 092 621 ; TW 100030629; OrmoPrime®: DE 30 210 075 436
Positiv-Photoresiste für die UV-Lithographie (Mask Aligner-, Laser-, Grauton-Belichtung) und Elektronenstrahllithographie
Photoresiste für UV (Mask Aligner, Laser)/ Elektronenstrahl- und Tief-UV-Lithographie